2501008717A

A 20260511

20060101

43 L

2501008717

20251219

PI 2025005624

20250917

เอ็กซิส เทค เอสดีเอ็น บีเอชดี

ล็อต 26209, จาลัน ทีเจ2/2, ทวนคู จาฟาร์ อินดัสเทรียล ปาร์ค, 71450 เซเรมบัน เนเกริ เซมบิลัน

MY ก๊ก เจียน ฮอร์ง

เตียว เจิ้ง เว่ย

ไล เจีย หยง

นาง กมลวรรณ เอื้อไพโรจน์ถาวร

บริษัท สำนักกฎหมายกัทท์ จำกัด เลขที่ 297 อาคารหวั่งหลี ทาวเวอร์ ชั้น 5 ยูนิตเอ สุรวงศ์ ตำบลสุริยวงศ์ อำเภอบางรัก จังหวัดกรุงเทพมหานคร

นาย ธนพล ธรรมประทีป

ระบบแป้นหมุนคู่สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ในการทดสอบแบบขนาน และอนุกรม

19/2569

20260511

20251219

20260511

National Patent

OCR 07AP 1. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ซึ่งประกอบรวมด้วย: แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ซึ่งแต่ละตัวประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของ ของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบจับและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์; ซึ่งมีลักษณะเฉพาะ โดย โต๊ะถ่ายโอน (30) ที่ถูกจัดตำแหน่งระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ ถูกจัดโครงแบบให้หมุนและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้น หมุนที่สอง (20); ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) ประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของช่องสลอทยึดหน่วง (32)ที่ถูกจัด โครงแบบให้จับแพ็กเกจ, ที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ถูกจัดกลุ่มในจำนวนหนึ่งของกลุ่มช่องสลอท (34), แต่ละกลุ่ม ช่องสลอท (34)ประกอบรวมด้วยจำนวนที่กำหนดล่วงหน้าของช่องสลอทยืดหน่วง (32) ที่ถูกจัดเรียง ในรูปแบบที่ตั้งไว้ล่วงหน้า, ที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ของกลุ่มช่องสลอท (34)ถูกจัดแนวกับหน่วยหยิบจับ (40) บน ส่วนหนึ่งของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10)หรือแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้: - รับหลายแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์อย่างพร้อมกันจากหน่วยหยิบจับ (40)ของแป้นหมุนที่ หนึ่ง (10) หรือแป้นหมุนที่สอง (20) หรือ - ยอมให้หลายแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ถูกหยิบจับขึ้นอย่างพร้อมกันโดยแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หรือแป้นหมุนที่สอง (20) 2. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30)ถูกจัดโครง แบบสำหรับถ่ายโอนสองทิศทางของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้น หมุนที่สอง (20) 3. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) สามารถ หมุนได้ในลักษณะที่ว่าเมื่อหนึ่งกลุ่มของกลุ่มช่องสลอท (34) ถูกจัดแนวกับแป้นหมุนที่หนึ่ง (10), อีก กลุ่มหนึ่งของกลุ่มช่องสลอท (34) ถูกจัดแนวอย่างพร้อมกันกับแป้นหมุนที่สอง (20) 4. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 3 ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) ถูกจัดโครง แบบให้: - รับจำนวนหนึ่งของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์จากแป้นหมุนที่หนึ่ง (10), และ - ยอมให้จำนวนหนึ่งของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ถูกหยิบจับขึ้นโดยแป้นหมุนที่สอง (20) หรือในทางกลับกัน 5. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งจำนวนของช่องสลอทยึด หน่วง (32) ในกลุ่มช่องสลอท (34) สอดคล้องกับจำนวนของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งสามารถถูก หยิบจับขึ้นโดยแป้นหมุนที่สอง (20) อย่างพร้อมกัน 6. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ถูกจัด ตำแหน่งใกล้กับแต่ละโมดูล (50) ของระบบตัวจัดการสำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ไปยัง และจากโมดูล (50) 7. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 6 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ถูกจัด โครงแบบให้หยิบจับขึ้นแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบจากโมดูล (50), วางแพ็กเกจเซมิคอน ดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบลงบนโต๊ะถ่ายโอน (30), หยิบจับขึ้นแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบจาก โต๊ะถ่ายโอน (30) และย้อนกลับแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบไปยังโมดูล (50) 8. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่สอง (20) ถูกจัด ตำแหน่งใกล้กับบริเวณทดสอบ (60) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ไปยังและจากบริเวณ ทดสอบ (60) 9. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 8 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่สอง (20) ถูกจัด โครงแบบให้หยิบจับขึ้นแพ็กเกจที่ไม่ถูกทดสอบจากโต๊ะถ่ายโอน (30), วางแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ ไม่ถูกทดสอบเข้าไปในบริเวณทดสอบ (60) และย้อนกลับแพ็กเกจที่ถูกทดสอบไปยังโต๊ะถ่ายโอน (30) สำหรับการเก็บรวบรวมโดยแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) 10. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และ แป้นหมุนที่สองเป็นแบบไม่ประสานเวลากันและกัน 11. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) กำหนด ตำแหน่งขยับเปลี่ยนที่เป็นศูนย์เป็นการอ้างอิงสำหรับการหมุนเชิงมุมเพื่อยอมให้การจัดแนวพร้อมกัน กับแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และที่สอง (20) 12. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์มีลักษณะเฉพาะโดย: แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ซึ่งประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบ จับและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ที่ถูกจัดโครงแบบให้เคลื่อนที่โดย หนึ่งช่วงห่างในหนึ่งระดับขั้นที่ซึ่งหนึ่งช่วงห่างสอดคล้องกับการเคลื่อนที่เชิงมุมของแป้นหมุนจาก ตำแหน่งของหนึ่งหน่วยหยิบจับ (40) ไปยังตำแหน่งของหน่วยหยิบจับ (40) ที่อยู่ใกล้ที่ไม่มีสิ่งใด ระหว่างนั้น; แป้นหมุนที่สอง (20) ซึ่งประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40)สำหรับหยิบจับ และถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,แป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้เคลื่อนที่โดยจำนวน n ของช่วงห่างในหนึ่งระดับขั้น; โต๊ะถ่ายโอน (30) ที่ถูกจัดตำแหน่งระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20)ที่ ถูกจัดโครงแบบให้หมุนและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์, โต๊ะถ่ายโอน (30) ซึ่งประกอบรวมด้วย จำนวนหนึ่งของช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดโครงแบบให้จับแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์, ที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ถูกจัดกลุ่มในจำนวน m ของกลุ่มช่องสลอท (34), โต๊ะถ่ายโอน (30) สามารถหมุนได้ในลักษณะที่ว่ากลุ่มช่องสลอทอย่างน้อยหนึ่งกลุ่มถูกจัดแนวกับ 1 หน่วยของ หน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และกลุ่มช่องสลอทอย่างน้อยอีกหนึ่งกลุ่มถูกจัดแนวกับ ก หน่วยของหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่สอง (20) เพื่อยอมให้มีการถ่ายโอนพร้อมกันโดยแป้นหมุนที่ หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ซึ่งn และ m ตามลำดับคือจำนวนเต็มมากกว่า 1; จำนวนหนึ่งของบริเวณทดสอบ (60) ที่ถูกจัดให้มีใน n หน่วย, ที่ถูกจัดวางใกล้เส้นรอบนอก ของแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบสำหรับการทดสอบแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์จากแป้น หมุนที่สอง (20); จำนวนหนึ่งของโมดูล (50) ที่ถูกจัดวางใกล้เส้นรอบนอกของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10),โมดูล (50) ถูกวางห่างกันและกันที่ระยะทางสอดคล้องกับหนึ่งช่วงห่างของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10); ที่ซึ่งเมื่อแป้นหมุนที่สอง (20) เดินเบาระหว่างการทดสอบแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ในบริเวณ ทดสอบ (60), แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) เคลื่อนที่ต่อเนื่องโดยหนึ่งช่วงห่างสำหรับจัดการแพ็กเกจเซมิคอน ดักเตอร์ระหว่างกับโมดูล (50) 13. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 12 ที่ซึ่งจำนวนหนึ่งของโมดูล (50) รวมถึงอย่างน้อยหนึ่งโมดูลของโมดูลจ่ายสำหรับการจัดให้มีแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่จะถูกทดสอบ และโมดูลการรับสำหรับเก็บรวบรวมแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบที่ถูกกำหนดว่ายอมรับได้ 14. วิธีการสำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์สำหรับการทดสอบซึ่งมีลักษณะเฉพาะ โดยขั้นตอนของ: ขั้นตอนถ่ายโอนที่หนึ่งที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) เคลื่อนที่โดยหนึ่งช่วงห่างสำหรับแต่ละ ระดับขั้นสำหรับการเคลื่อนที่แพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบเพื่อจัดแนวกับจำนวน 1 ของ ช่องสลอทยึดหน่วง (32) บนกลุ่มช่องสลอท (34) ของโต๊ะถ่ายโอน (30), แป้นหมุนที่สอง (20) เคลื่อนที่โดยจำนวน n ของช่วงห่างสำหรับแต่ละระดับขั้นสำหรับการเคลื่อนที่แพ็กเกจเซมิคอนดัก เตอร์ที่ถูกทดสอบเพื่อจัดแนวกับจำนวน ก ของช่องสลอทยึดหน่วงบนอีกหนึ่งกลุ่มช่องสลอท (34) ของโต๊ะถ่ายโอน (30), แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) วางจำนวน n ของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูก ทดสอบไปยังช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดแนวและแป้นหมุนที่สอง (20) วางแพ็กเกจเซมิคอนดัก เตอร์ไปยังช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดแนวของกลุ่มช่องสลอทอื่น โดยที่ n คือจำนวนเต็มมากกว่า 1; ขั้นตอนถ่ายโอนที่สองที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) เคลื่อนที่ดังนั้นแล้วแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ ไม่ถูกทดสอบถูกจัดแนวกับหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่สอง (20) และแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูก ทดสอบถูกจัดแนวกับหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10); ขั้นตอนถ่ายโอนที่สามที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หยิบจับขึ้นแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูก ทดสอบจากโต๊ะถ่ายโอน (30) และแป้นหมุนที่สอง (20) หยิบจับขึ้นแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูก ทดสอบอย่างพร้อมกันจากโต๊ะถ่ายโอน (30); ที่ซึ่งขั้นตอนถ่ายโอนที่หนึ่ง, ที่สองและที่สามถูกกระทำอย่างเป็นลำดับในวัฏจักรซ้ำสำหรับ การทำให้การปฏิบัติการเกิดผลซึ่งรวมถึง ขั้นตอนการทดสอบที่หนึ่งซึ่งประกอบรวมด้วยการถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์จากแป้น หมุนที่สอง (20) ไปยังจำนวนหนึ่งของบริเวณทดสอบ (60) สำหรับการทดสอบพร้อมกัน, ขั้นตอนการ ทดสอบที่หนึ่งถูกกระทำหลังจากขั้นตอนถ่ายโอนที่สองและระหว่างขั้นตอนถ่ายโอนที่หนึ่ง; การถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบจากแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ไปยังโมดูล (50) ระหว่างขั้นตอนถ่ายโอนที่หนึ่ง 15. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งประกอบรวมด้วย: แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ซึ่งประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบ จับและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนตักเตอร์, แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ที่ถูกจัดโครงแบบให้เคลื่อนที่โดย หนึ่งช่วงห่างในหนึ่งระดับขั้นที่ซึ่งหนึ่งช่วงห่างสอดคล้องกับการเคลื่อนที่เชิงมุมจากตำแหน่งของหนึ่ง หน่วยหยิบจับ (40) ไปยังตำแหน่งของหน่วยหยิบจับ (40) ที่อยู่ใกล้ที่ไม่มีสิ่งใดระหว่างนั้น; แป้นหมุนที่สอง (20) ซึ่งประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบจับ และถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,แป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้เคลื่อนที่โดยช่วง ห่างหนึ่งหรือมากกว่าหนึ่งช่วงห่างในหนึ่งระดับขั้น; โต๊ะถ่ายโอน (30) ที่ถูกจัดตำแหน่งระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ ถูกจัดโครงแบบให้หมุนและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,โต๊ะถ่ายโอน (30) ซึ่งประกอบรวมด้วย จำนวนหนึ่งของช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดโครงแบบให้จับแพ็กเกจ, ที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ถูกจัดกลุ่มในจำนวน m ของกลุ่มช่องสลอท (34), กลุ่มช่อง สลอทอย่างน้อยหนึ่งกลุ่มถูกจัดแนวกับ 5 หน่วยของหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10)และกลุ่ม ช่องสลอทอย่างน้อยอีกหนึ่งกลุ่มถูกจัดแนวกับ 1 หน่วยของหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่สอง (20) เพื่อยอมให้มีการหยิบจับพร้อมกัน โดยแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ซึ่ง n และ m ตามลำดับคือจำนวนเต็มมากกว่า 1; จำนวนหนึ่งของบริเวณทดสอบ (60) ที่ถูกจัดให้มีในจำนวน n ของหน่วยสำหรับรับแพ็กเกจเซ มิคอนดักเตอร์สำหรับการทดสอบ, แต่ละบริเวณทดสอบ (60) กระทำฟังก์ชั่นการทดสอบที่เหมือนกัน หรือแตกต่างกัน; ตัวควบคุมสำหรับควบคุมแป้นหมุนที่หนึ่ง (10), แป้นหมุนที่สอง (20), หน่วยหยิบจับ (40) และโต๊ะถ่ายโอน (30), ตัวควบคุมถูกจัดโครงแบบให้ควบคุมจำนวนช่วงห่างในแต่ละระดับขั้นของ แป้นหมุนที่สอง (20) ที่ทำให้สามารถมีการเลือกการปฏิบัติการจากโหมดการทดสอบที่หนึ่งและโหมด การทดสอบที่สองของระบบได้ที่ซึ่ง ในโหมดการทดสอบที่หนึ่ง,แต่ละบริเวณทดสอบ (60) กระทำการทดสอบที่แตกต่างกัน แป้นหมุนที่หนึ่งและที่สอง (10, 20) เคลื่อนที่โดยหนึ่งช่วงห่างในแต่ละระดับขั้น, แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) กับจำนวน nของหน่วยหยิบจับที่มีแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบที่ถูกจัดแนวกับกลุ่ม ช่องสลอทบนโต๊ะถ่ายโอน (30), แป้นหมุนที่สอง (20) กับจำนวน 1 ของหน่วยหยิบจับที่มีแพ็กเกจเซมิ คอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบที่ถูกจัดแนวกับกลุ่มช่องสลอทอื่นของโต๊ะถ่ายโอน,สำหรับถ่ายโอนพร้อม กันของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ด้วยแป้นหมุนที่หนึ่งและที่สอง (10, 20), ในโหมดการทดสอบที่สอง, แต่ละจำนวน n ของบริเวณทดสอบ (60) กระทำการทดสอบที่ เหมือนกัน, แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) เคลื่อนที่โดยหนึ่งช่วงห่างในแต่ละระดับขั้นและแป้นหมุนที่สอง (20) เคลื่อนที่โดยจำนวน n ของช่วงห่างในแต่ละระดับขั้น, แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) กับจำนวน n ของ หน่วยหยิบจับที่มีแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบที่ถูกจัดแนวกับกลุ่มช่องสลอทบนโต๊ะถ่าย โอน (30), แป้นหมุนที่สอง (20) กับจำนวน n ของหน่วยหยิบจับที่มีแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูก ทดสอบที่ถูกจัดแนวกับกลุ่มช่องสลอทอื่นของโต๊ะถ่ายโอน (30), สำหรับถ่ายโอนพร้อมกันของ แพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ด้วยแป้นหมุนที่หนึ่งและที่สอง (10, 20)

OCR 07AP การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับระบบแป้นหมุนคู่ (1) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งประกอบรวมด้วย: แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ซึ่งแต่ละแป้นหมุนประกอบ รวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบจับและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ซึ่ง มีลักษณะเฉพาะโดยโต๊ะถ่ายโอน (30) ที่ถูกจัดตำแหน่งระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่ สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้หมุนและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) ประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของช่องสลอทยึด หน่วง (32) ที่ถูกจัดโครงแบบให้จับแพ็กเกจที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ถูกจัดกลุ่มในจำนวนหนึ่ง ของกลุ่มช่องสลอท (34), แต่ละกลุ่มช่องสลอท (32) ประกอบรวมด้วยจำนวนที่กำหนดล่วงหน้าของ ช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดเรียงในรูปแบบที่ตั้งไว้ล่วงหน้าที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ของ กลุ่มช่องสลอท (34) ถูกจัดแนวกับหน่วยหยิบจับ (40) บนส่วนหนึ่งของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หรือ แป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้: รับหลายแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์อย่างพร้อมกันจาก หน่วยหยิบจับ (40) ของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หรือแป้นหมุนที่สอง (20) หรือยอมให้หลายแพ็กเกจเซ มิคอนดักเตอร์ถูกหยิบจับขึ้นพร้อมกันโดยแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หรือแป้นหมุนที่สอง (20)