Application Type
Patents
Application SubType
National Patent
(10) Registration Number and Date
Status
ACTIVE ( Document published)
(180) Expiration Date
(20) Filing Number and Date
TH 2501008717 2025.12.19
(40) Publication Number (Gazette Number) and Date
(19/2569)
2026.05.11
(86) PCT Filing Number and Date
(87) PCT Publication Number and Date
(85) National Entry Date
(30) Priority Details
MY
MYPI 2025005624
2025.09.17
(51) IPC Classes
(72) Inventor
(TH) ก๊ก เจียน ฮอร์ง : ล็อต 26209, จาลัน ทีเจ2/2, ทวนคู จาฟาร์ อินดัสเทรียล ปาร์ค, 71450 เซเรมบัน เนเกริ เซมบิลัน
เตียว เจิ้ง เว่ย
ไล เจีย หยง
(74) Representative
(TH) นาง กมลวรรณ เอื้อไพโรจน์ถาวร : บริษัท สำนักกฎหมายกัทท์ จำกัด เลขที่ 297 อาคารหวั่งหลี ทาวเวอร์ ชั้น 5 ยูนิตเอ สุรวงศ์ ตำบลสุริยวงศ์ อำเภอบางรัก จังหวัดกรุงเทพมหานคร
นาย ธนพล ธรรมประทีป
(54) Title
(TH)

ระบบแป้นหมุนคู่สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ในการทดสอบแบบขนาน
 และอนุกรม

(57) Abstract
(TH)

OCR 07AP

การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับระบบแป้นหมุนคู่ (1) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์

ซึ่งประกอบรวมด้วย: แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ซึ่งแต่ละแป้นหมุนประกอบ

รวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบจับและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ซึ่ง

มีลักษณะเฉพาะโดยโต๊ะถ่ายโอน (30) ที่ถูกจัดตำแหน่งระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่

สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้หมุนและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง

(10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) ประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของช่องสลอทยึด

หน่วง (32) ที่ถูกจัดโครงแบบให้จับแพ็กเกจที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ถูกจัดกลุ่มในจำนวนหนึ่ง

ของกลุ่มช่องสลอท (34), แต่ละกลุ่มช่องสลอท (32) ประกอบรวมด้วยจำนวนที่กำหนดล่วงหน้าของ

ช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดเรียงในรูปแบบที่ตั้งไว้ล่วงหน้าที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ของ

กลุ่มช่องสลอท (34) ถูกจัดแนวกับหน่วยหยิบจับ (40) บนส่วนหนึ่งของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หรือ

แป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้: รับหลายแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์อย่างพร้อมกันจาก

หน่วยหยิบจับ (40) ของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หรือแป้นหมุนที่สอง (20) หรือยอมให้หลายแพ็กเกจเซ

มิคอนดักเตอร์ถูกหยิบจับขึ้นพร้อมกันโดยแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หรือแป้นหมุนที่สอง (20)

(58) Citations
License Details
(98) Annuity Details
YearValidity StartValidity EndPayment
Document Type Date Action
abstract 2026-05-11T00:00:00Z
claims 2026-05-11T00:00:00Z
description 2026-05-11T00:00:00Z
gazette 2026-05-11T00:00:00Z
Event NameDateLink
Application filed2025-12-19
Document published2026-05-11

1

OCR 07AP

1. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ซึ่งประกอบรวมด้วย:

แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ซึ่งแต่ละตัวประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของ

ของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบจับและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์;

ซึ่งมีลักษณะเฉพาะ โดย

โต๊ะถ่ายโอน (30) ที่ถูกจัดตำแหน่งระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่

ถูกจัดโครงแบบให้หมุนและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้น

หมุนที่สอง (20);

ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) ประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของช่องสลอทยึดหน่วง (32)ที่ถูกจัด

โครงแบบให้จับแพ็กเกจ,

ที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ถูกจัดกลุ่มในจำนวนหนึ่งของกลุ่มช่องสลอท (34), แต่ละกลุ่ม

ช่องสลอท (34)ประกอบรวมด้วยจำนวนที่กำหนดล่วงหน้าของช่องสลอทยืดหน่วง (32) ที่ถูกจัดเรียง

ในรูปแบบที่ตั้งไว้ล่วงหน้า,

ที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ของกลุ่มช่องสลอท (34)ถูกจัดแนวกับหน่วยหยิบจับ (40) บน

ส่วนหนึ่งของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10)หรือแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้:

- รับหลายแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์อย่างพร้อมกันจากหน่วยหยิบจับ (40)ของแป้นหมุนที่

หนึ่ง (10) หรือแป้นหมุนที่สอง (20) หรือ

- ยอมให้หลายแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ถูกหยิบจับขึ้นอย่างพร้อมกันโดยแป้นหมุนที่หนึ่ง

(10) หรือแป้นหมุนที่สอง (20)

2. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30)ถูกจัดโครง

แบบสำหรับถ่ายโอนสองทิศทางของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้น

หมุนที่สอง (20)

3. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) สามารถ

หมุนได้ในลักษณะที่ว่าเมื่อหนึ่งกลุ่มของกลุ่มช่องสลอท (34) ถูกจัดแนวกับแป้นหมุนที่หนึ่ง (10), อีก

กลุ่มหนึ่งของกลุ่มช่องสลอท (34) ถูกจัดแนวอย่างพร้อมกันกับแป้นหมุนที่สอง (20)

4. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 3 ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) ถูกจัดโครง

แบบให้:

- รับจำนวนหนึ่งของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์จากแป้นหมุนที่หนึ่ง (10), และ

- ยอมให้จำนวนหนึ่งของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ถูกหยิบจับขึ้นโดยแป้นหมุนที่สอง (20)

หรือในทางกลับกัน

5. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งจำนวนของช่องสลอทยึด

หน่วง (32) ในกลุ่มช่องสลอท (34) สอดคล้องกับจำนวนของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งสามารถถูก

หยิบจับขึ้นโดยแป้นหมุนที่สอง (20) อย่างพร้อมกัน

6. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ถูกจัด

ตำแหน่งใกล้กับแต่ละโมดูล (50) ของระบบตัวจัดการสำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ไปยัง

และจากโมดูล (50)

7. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 6 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ถูกจัด

โครงแบบให้หยิบจับขึ้นแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบจากโมดูล (50), วางแพ็กเกจเซมิคอน

ดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบลงบนโต๊ะถ่ายโอน (30), หยิบจับขึ้นแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบจาก

โต๊ะถ่ายโอน (30) และย้อนกลับแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบไปยังโมดูล (50)

8. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่สอง (20) ถูกจัด

ตำแหน่งใกล้กับบริเวณทดสอบ (60) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ไปยังและจากบริเวณ

ทดสอบ (60)

9. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 8 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่สอง (20) ถูกจัด

โครงแบบให้หยิบจับขึ้นแพ็กเกจที่ไม่ถูกทดสอบจากโต๊ะถ่ายโอน (30), วางแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่

ไม่ถูกทดสอบเข้าไปในบริเวณทดสอบ (60) และย้อนกลับแพ็กเกจที่ถูกทดสอบไปยังโต๊ะถ่ายโอน (30)

สำหรับการเก็บรวบรวมโดยแป้นหมุนที่หนึ่ง (10)

10. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และ

แป้นหมุนที่สองเป็นแบบไม่ประสานเวลากันและกัน

11. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) กำหนด

ตำแหน่งขยับเปลี่ยนที่เป็นศูนย์เป็นการอ้างอิงสำหรับการหมุนเชิงมุมเพื่อยอมให้การจัดแนวพร้อมกัน

กับแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และที่สอง (20)

12. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์มีลักษณะเฉพาะโดย:

แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ซึ่งประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบ

จับและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ที่ถูกจัดโครงแบบให้เคลื่อนที่โดย

หนึ่งช่วงห่างในหนึ่งระดับขั้นที่ซึ่งหนึ่งช่วงห่างสอดคล้องกับการเคลื่อนที่เชิงมุมของแป้นหมุนจาก

ตำแหน่งของหนึ่งหน่วยหยิบจับ (40) ไปยังตำแหน่งของหน่วยหยิบจับ (40) ที่อยู่ใกล้ที่ไม่มีสิ่งใด

ระหว่างนั้น;

แป้นหมุนที่สอง (20) ซึ่งประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40)สำหรับหยิบจับ

และถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,แป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้เคลื่อนที่โดยจำนวน

n ของช่วงห่างในหนึ่งระดับขั้น;

โต๊ะถ่ายโอน (30) ที่ถูกจัดตำแหน่งระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20)ที่

ถูกจัดโครงแบบให้หมุนและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์, โต๊ะถ่ายโอน (30) ซึ่งประกอบรวมด้วย

จำนวนหนึ่งของช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดโครงแบบให้จับแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,

ที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ถูกจัดกลุ่มในจำนวน m ของกลุ่มช่องสลอท (34), โต๊ะถ่ายโอน

(30) สามารถหมุนได้ในลักษณะที่ว่ากลุ่มช่องสลอทอย่างน้อยหนึ่งกลุ่มถูกจัดแนวกับ 1 หน่วยของ

หน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และกลุ่มช่องสลอทอย่างน้อยอีกหนึ่งกลุ่มถูกจัดแนวกับ ก

หน่วยของหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่สอง (20) เพื่อยอมให้มีการถ่ายโอนพร้อมกันโดยแป้นหมุนที่

หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ซึ่งn และ m ตามลำดับคือจำนวนเต็มมากกว่า 1;

จำนวนหนึ่งของบริเวณทดสอบ (60) ที่ถูกจัดให้มีใน n หน่วย, ที่ถูกจัดวางใกล้เส้นรอบนอก

ของแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบสำหรับการทดสอบแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์จากแป้น

หมุนที่สอง (20);

จำนวนหนึ่งของโมดูล (50) ที่ถูกจัดวางใกล้เส้นรอบนอกของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10),โมดูล

(50) ถูกวางห่างกันและกันที่ระยะทางสอดคล้องกับหนึ่งช่วงห่างของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10);

ที่ซึ่งเมื่อแป้นหมุนที่สอง (20) เดินเบาระหว่างการทดสอบแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ในบริเวณ

ทดสอบ (60), แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) เคลื่อนที่ต่อเนื่องโดยหนึ่งช่วงห่างสำหรับจัดการแพ็กเกจเซมิคอน

ดักเตอร์ระหว่างกับโมดูล (50)

13. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) ตามที่ขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิที่ 12 ที่ซึ่งจำนวนหนึ่งของโมดูล (50)

รวมถึงอย่างน้อยหนึ่งโมดูลของโมดูลจ่ายสำหรับการจัดให้มีแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่จะถูกทดสอบ

และโมดูลการรับสำหรับเก็บรวบรวมแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบที่ถูกกำหนดว่ายอมรับได้

14. วิธีการสำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์สำหรับการทดสอบซึ่งมีลักษณะเฉพาะ

โดยขั้นตอนของ:

ขั้นตอนถ่ายโอนที่หนึ่งที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) เคลื่อนที่โดยหนึ่งช่วงห่างสำหรับแต่ละ

ระดับขั้นสำหรับการเคลื่อนที่แพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบเพื่อจัดแนวกับจำนวน 1 ของ

ช่องสลอทยึดหน่วง (32) บนกลุ่มช่องสลอท (34) ของโต๊ะถ่ายโอน (30), แป้นหมุนที่สอง (20)

เคลื่อนที่โดยจำนวน n ของช่วงห่างสำหรับแต่ละระดับขั้นสำหรับการเคลื่อนที่แพ็กเกจเซมิคอนดัก

เตอร์ที่ถูกทดสอบเพื่อจัดแนวกับจำนวน ก ของช่องสลอทยึดหน่วงบนอีกหนึ่งกลุ่มช่องสลอท (34)

ของโต๊ะถ่ายโอน (30), แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) วางจำนวน n ของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูก

ทดสอบไปยังช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดแนวและแป้นหมุนที่สอง (20) วางแพ็กเกจเซมิคอนดัก

เตอร์ไปยังช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดแนวของกลุ่มช่องสลอทอื่น โดยที่ n คือจำนวนเต็มมากกว่า

1;

ขั้นตอนถ่ายโอนที่สองที่ซึ่งโต๊ะถ่ายโอน (30) เคลื่อนที่ดังนั้นแล้วแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่

ไม่ถูกทดสอบถูกจัดแนวกับหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่สอง (20) และแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูก

ทดสอบถูกจัดแนวกับหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10);

ขั้นตอนถ่ายโอนที่สามที่ซึ่งแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) หยิบจับขึ้นแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูก

ทดสอบจากโต๊ะถ่ายโอน (30) และแป้นหมุนที่สอง (20) หยิบจับขึ้นแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูก

ทดสอบอย่างพร้อมกันจากโต๊ะถ่ายโอน (30);

ที่ซึ่งขั้นตอนถ่ายโอนที่หนึ่ง, ที่สองและที่สามถูกกระทำอย่างเป็นลำดับในวัฏจักรซ้ำสำหรับ

การทำให้การปฏิบัติการเกิดผลซึ่งรวมถึง

ขั้นตอนการทดสอบที่หนึ่งซึ่งประกอบรวมด้วยการถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์จากแป้น

หมุนที่สอง (20) ไปยังจำนวนหนึ่งของบริเวณทดสอบ (60) สำหรับการทดสอบพร้อมกัน, ขั้นตอนการ

ทดสอบที่หนึ่งถูกกระทำหลังจากขั้นตอนถ่ายโอนที่สองและระหว่างขั้นตอนถ่ายโอนที่หนึ่ง;

การถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบจากแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ไปยังโมดูล (50)

ระหว่างขั้นตอนถ่ายโอนที่หนึ่ง

15. ระบบแป้นหมุนคู่ (1) สำหรับถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งประกอบรวมด้วย:

แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ซึ่งประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบ

จับและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนตักเตอร์, แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) ที่ถูกจัดโครงแบบให้เคลื่อนที่โดย

หนึ่งช่วงห่างในหนึ่งระดับขั้นที่ซึ่งหนึ่งช่วงห่างสอดคล้องกับการเคลื่อนที่เชิงมุมจากตำแหน่งของหนึ่ง

หน่วยหยิบจับ (40) ไปยังตำแหน่งของหน่วยหยิบจับ (40) ที่อยู่ใกล้ที่ไม่มีสิ่งใดระหว่างนั้น;

แป้นหมุนที่สอง (20) ซึ่งประกอบรวมด้วยจำนวนหนึ่งของหน่วยหยิบจับ (40) สำหรับหยิบจับ

และถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,แป้นหมุนที่สอง (20) ที่ถูกจัดโครงแบบให้เคลื่อนที่โดยช่วง

ห่างหนึ่งหรือมากกว่าหนึ่งช่วงห่างในหนึ่งระดับขั้น;

โต๊ะถ่ายโอน (30) ที่ถูกจัดตำแหน่งระหว่างแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่

ถูกจัดโครงแบบให้หมุนและถ่ายโอนแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์,โต๊ะถ่ายโอน (30) ซึ่งประกอบรวมด้วย

จำนวนหนึ่งของช่องสลอทยึดหน่วง (32) ที่ถูกจัดโครงแบบให้จับแพ็กเกจ,

ที่ซึ่งช่องสลอทยึดหน่วง (32) ถูกจัดกลุ่มในจำนวน m ของกลุ่มช่องสลอท (34), กลุ่มช่อง

สลอทอย่างน้อยหนึ่งกลุ่มถูกจัดแนวกับ 5 หน่วยของหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่หนึ่ง (10)และกลุ่ม

ช่องสลอทอย่างน้อยอีกหนึ่งกลุ่มถูกจัดแนวกับ 1 หน่วยของหน่วยหยิบจับของแป้นหมุนที่สอง (20)

เพื่อยอมให้มีการหยิบจับพร้อมกัน โดยแป้นหมุนที่หนึ่ง (10) และแป้นหมุนที่สอง (20) ที่ซึ่ง n และ m

ตามลำดับคือจำนวนเต็มมากกว่า 1;

จำนวนหนึ่งของบริเวณทดสอบ (60) ที่ถูกจัดให้มีในจำนวน n ของหน่วยสำหรับรับแพ็กเกจเซ

มิคอนดักเตอร์สำหรับการทดสอบ, แต่ละบริเวณทดสอบ (60) กระทำฟังก์ชั่นการทดสอบที่เหมือนกัน

หรือแตกต่างกัน;

ตัวควบคุมสำหรับควบคุมแป้นหมุนที่หนึ่ง (10), แป้นหมุนที่สอง (20), หน่วยหยิบจับ (40)

และโต๊ะถ่ายโอน (30), ตัวควบคุมถูกจัดโครงแบบให้ควบคุมจำนวนช่วงห่างในแต่ละระดับขั้นของ

แป้นหมุนที่สอง (20) ที่ทำให้สามารถมีการเลือกการปฏิบัติการจากโหมดการทดสอบที่หนึ่งและโหมด

การทดสอบที่สองของระบบได้ที่ซึ่ง

ในโหมดการทดสอบที่หนึ่ง,แต่ละบริเวณทดสอบ (60) กระทำการทดสอบที่แตกต่างกัน

แป้นหมุนที่หนึ่งและที่สอง (10, 20) เคลื่อนที่โดยหนึ่งช่วงห่างในแต่ละระดับขั้น, แป้นหมุนที่หนึ่ง

(10) กับจำนวน nของหน่วยหยิบจับที่มีแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบที่ถูกจัดแนวกับกลุ่ม

ช่องสลอทบนโต๊ะถ่ายโอน (30), แป้นหมุนที่สอง (20) กับจำนวน 1 ของหน่วยหยิบจับที่มีแพ็กเกจเซมิ

คอนดักเตอร์ที่ถูกทดสอบที่ถูกจัดแนวกับกลุ่มช่องสลอทอื่นของโต๊ะถ่ายโอน,สำหรับถ่ายโอนพร้อม

กันของแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ด้วยแป้นหมุนที่หนึ่งและที่สอง (10, 20),

ในโหมดการทดสอบที่สอง, แต่ละจำนวน n ของบริเวณทดสอบ (60) กระทำการทดสอบที่

เหมือนกัน, แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) เคลื่อนที่โดยหนึ่งช่วงห่างในแต่ละระดับขั้นและแป้นหมุนที่สอง

(20) เคลื่อนที่โดยจำนวน n ของช่วงห่างในแต่ละระดับขั้น, แป้นหมุนที่หนึ่ง (10) กับจำนวน n ของ

หน่วยหยิบจับที่มีแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ไม่ถูกทดสอบที่ถูกจัดแนวกับกลุ่มช่องสลอทบนโต๊ะถ่าย

โอน (30), แป้นหมุนที่สอง (20) กับจำนวน n ของหน่วยหยิบจับที่มีแพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ที่ถูก

ทดสอบที่ถูกจัดแนวกับกลุ่มช่องสลอทอื่นของโต๊ะถ่ายโอน (30), สำหรับถ่ายโอนพร้อมกันของ

แพ็กเกจเซมิคอนดักเตอร์ด้วยแป้นหมุนที่หนึ่งและที่สอง (10, 20)